IEEESTEC 17TH (2024), (pp. 169–176)
АУТОР / AUTHOR(S): Lana Tasić
DOI: 10.46793/IEEESTEC17.169T
САЖЕТАК / ABSTRACT:
U ovom radu ispitana je pouzdanost elektrolitskog kondenzatora niske impedanse kroz metodu termičkog cikliranja u kontrolisanim klimatskim uslovima pomoću BINDER MKF 56 klimatske komore. Ubrzano starenje simulirano je ekstremnim temperaturnim promenama tokom sedmodnevnog cikliranja, pri čemu su kondenzatori bili u jednosmernom režimu rada. Uz ispitivanje pouzdanosti izvršena je i analiza uticaja temperature i frekvencije na osnovne parametre kondenzatora.
КЉУЧНЕ РЕЧИ / KEYWORDS:
ispitivanje pouzdanosti, elektrolitski kondenzator, termičko cikliranje, klimatska komora
ЛИТЕРАТУРА/ REFERENCES:
- Ramović, Pouzdanost elektronskih, telekomunikacionih i informacionih sistema, Katedraza Mikroelektroniku i tehničku fiziku, Beograd 2005.
- Davidović, Pouzdanost elektronskih komponenata, prezentacije sa predavanja, Elektronski fakultet, Niš 2023.
- Ilić, HALT, seminarski rad iz predmeta Pouzdanost elektronskih komponenata, Elektronski fakultet, Niš 2018.
- BINDER MKF 56 chamber Operating manual, Dostupno na: https://www.binder-world.com/int-en/products/environmental-testing/dynamic-climate-chambers/product/asset/1825388J.
- WL SAMWHA Miniature Electrolytic capacitors, Dostupno na: http://210.123.70.236/electric/product/list_pdf2/WL.pdf.
- Agilent 4284A Precision LCR meter, Dostupno na: https://www.unifr.ch/med/fr/assets/public/professoren/rainerg/Documents/Manuals/AGILENT_4284A.pdf.
- Marjanović, V. Paunović, S. Veljković, Materijali za elektroniku, praktikum laboratorijskih vežbi, Elektronski fakultet, Niš 2022.