IEEESTEC 17TH (2024), (pp. 133–136)
АУТОР / AUTHOR(S): Dunja Đorđević
DOI: 10.46793/IEEESTEC17.133DJ
САЖЕТАК / ABSTRACT:
U ovom radu proučavana je osetljivost PIN fotodiode pri izlaganju rendgenskom (X) zračenju. Vršena je varijacija različitih parametara kao što su doza zračenja, kvalitet snopa i struje rendgenske cevi. Merena je fotostruja za različite napone polarizacije u različitim uslovima. Takođe, izvršeno je merenje jačine kerme u vazduhu. Na osnovu dobijenih rezultata, prikazan je uticaj kerme na osetljivost PIN fotodiode.
КЉУЧНЕ РЕЧИ / KEYWORDS:
PIN dioda, X-zračenje, kerma
ЛИТЕРАТУРА/ REFERENCES:
- Ristić, Dozimetrija i dozimetri, predavanja, Elektronski fakultet u Nišu
- Institut za nuklearne nauke ,,Vinča“. Dostupno na: https://www.vin.bg.ac.rs/istrazivanja/laboratorije i centri/laboratorija-za-zastitu-od-zracenja-i-zastitu-zivotne-sredine.
- Rendgen aparat Hopewell Design Beam Irradiator X80-255. Dostupno na: https://www.hopewelldesigns.com/products/x-ray-irradiator-systems/.
- Elektrometra PTW Unidos Webline i jonizacione komore ExRadin A3. Dostupno na: http://www.seedos.co.uk/SeeDOS_Product_Manual-80360 00_EXRSPHERE.pdf.
- Datasheet FD80N, IHTM.
- GNU Octave. Dostupno na: https://octave.org/download.
- Dostupno na: https://www.originlab.com/.